LEP-J型电磁式探头 一点接触定圧式

LEP-J型电磁式探头
是用于Kett电磁膜厚仪的探头。
如：LE-370/LZ-370/LE-200J/LZ-200J/LE-373/LZ-373。
注：L-500型膜厚仪的电磁式探头为EP-100；内置存储芯片。
规格：

产品描述	Feプローブ（ケーブル色：黒）電磁式 Fe Probe (Black Cable) Electromagnetic
产品型号	LEP-J
测量对象	磁性金属上的非磁性涂层
测量范围	LE-370/LZ-370/LE-373/LZ-373	0-2,500μm 或 99.0mils
	LE-200J/LZ-200J	0-1,500μm 或 60.0mils
尺寸	φ13×90 mm（不包括电缆和连接器）
电缆长度	1.2m
重量	110g
产地	日本
生产厂家	株式会社ケツト科学研究所 Kett Electric Laboratory
供应商	上海益朗仪器有限公司 Shanghai Yilang Instruments Co.,Ltd.

使用方法
请仔细阅读膜厚仪主机使用说明书后再使用。使用该探头进行初次测量时，为了获得正确的测量值，使用膜厚仪时请务必进行调整（校正）。
使用时的注意事项
若探头尖部损伤或附着污渍，将无法进行准确的测量。请勿在测量表面上敲打探头，或将探头按在测量表面上拖动。测量后，请用沾有稀释剂、酒精等清洁剂的软布清洁探头尖部。存储芯片安装在连接器部分上，因此请注意不要使其受到强烈碰撞。