| 测量范围 | 无 | 型号 | Mp-900 |
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| 品牌 | UPA | 类型 | 镀层测厚仪 |
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Microderm MP-900型β射线反向散射和霍尔效应系统
测量许多典型的厚度应用，包括镍上镀金(Au/Ni)，环氧树脂上镀铜(Cu/Epoxy)，光刻胶，铜上镀银(Ag/Cu)，可伐上镀锡(Sn/Kov)，铁上镀硝酸钛，锡-铅合金。
Microderm β射线反向散射厚度标准片(4点套装)，包含一个底材，一个无限厚镀层材料，和2片可追溯N.I.S.T认证的厚度标准片。
NIST( (National Institute of Standards Technology)
使用霍尔效应可以测量铜上镀镍的厚度。
每个系统配有：台式测量仪，测量探头和支架，和厚度标准片。
为易用性和效率性而设计的。
用于喜欢台式机的用户。欲了解产品的更多信息，请联系上海益朗仪器有限公司。
探头
所有Microderm探头可用于手持式(MicroDerm CMS)或台式(MicroDerm MP-900)
HH3探头
自含探头系统包含一个探头管，β放射源，盖革-穆勒管探头，样品罩和包装箱。
适用于多种探头支架和标准片，几乎能测量所有大小或形状的产品。
WF探头支架
WF探头支架用于HH-3或HH-2探头，无需工具几秒钟即可连接。
通过一个金属外环环绕一个抛光的亚克力树脂磁心达到平衡。
支架固定探头稳定在水平表面。
SPG-1小部件探头支架
用于HH-3探头，无需工具几秒钟即可连接。
压力弹簧减震销牢固的持压小部件到HH-3探头上实现准确重复测量。
PS-10A探头台面
允许准确的，即时的对准非常小的部件：电子元件像连接器，触点，插针；使用探头系统终端很容易测量。
压力弹簧减震销牢固的持压部件。
BTF探头
测量湿的或干的涂层，如冲压润滑剂，引物和平面上的粘合剂。
准确测量极薄的有机薄膜涂层和金属薄膜涂层
β射线镀层测厚仪
功能 ：用于测量电子工业电镀镀层厚度、手表及首饰加工镀层检验、生产过程镀层的监测。 用途 广泛应用于电子工业、手表及首饰加工等部门。
工作原理 ：放射性核素147Pm、204Ti、90PSr、147Pm(Pb)等产生的β射线具有穿透物质的能力。β射线通过被测介质时，会有一部分被介质吸收，使得射线穿过物质后其放射性强度减弱，通过测量放射性强度衰减与介质厚度之间的关系（有一个计算公式）来测量镀层度。
相关标准
产品规格
规格名称 说明 常见参数
测量范围 147Pm：0.1～2.4μm204Ti ：1.0～11μm90PSr：10～140μm147Pm(Pb)：0～70%
重复性 好于1%
温度系数 0.2%/℃
准确度 ±10%
重复性 ±2%
时间常数 4s，8s1，6s，32s，1min，2min，4min，8min
